Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия
Монография посвящена особенностям конструкции современных просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), спектроскопии потерь энергии электронов (СПЭЭ), энерго-дисперсионной электроннозондовой рентгеновской спектроскопии (ЭДС), а также цифровым системам регистрации изображений, в том числе на основе цифровых ПЗС камер и системам: на основе электронно-стимулированной фотолюминесценции (IP-системам), устанавливаемых на современные ПЭМ. Даны, подробные описания аналитических методик и интерпретации полученных результатов. В книге представлен новейший метод трехмерной томографии с помощью ПЭМ и метода ALCHEMI для анализа дефектов замещения в кристаллах. Также изложены прикладные методы для анализа магнитных материалов, метод электронной голографии. Настольная книга материаловеда.
Автор | Д. Синдо, Т. Оикава |
Серия | Мир материалов и технологий |
Год выпуска | 2006 |
Издатель | Техносфера |
ISBN | 5-94836-064-4, 4-431-70336-5 |
Цена | 245 руб. |